May 13 2026

/

LABTT-IHV-50SE Micro Hardness Tester

IHV-50SE Micro Hardness Tester

IHV-50SE Micro Hardness Tester merupakan alat uji kekerasan mikro otomatis yang dirancang untuk pengujian material dengan tingkat presisi tinggi. Dilengkapi sistem automatic turret, pengukuran hardness otomatis, serta dukungan pengujian Vickers, Knoop, dan Brinell, alat ini sangat cocok digunakan pada laboratorium material, industri manufaktur, quality control, dan penelitian metalurgi.

Keunggulan Utama

    • Pengukuran kekerasan otomatis dengan akurasi tinggi
    • Sistem turret otomatis untuk perpindahan objective dan indenter
    • Mendukung pengujian Vickers, Knoop, dan Brinell
    • Pengukuran hardness hanya dengan satu klik
    • Posisi titik uji otomatis dan presisi
    • Turret presisi 6 posisi
    • Layar sentuh modern dan mudah digunakan
    • Mendukung penyimpanan data dan ekspor laporan
    • Dilengkapi koneksi Wi-Fi
    • Tersedia opsi panorama camera dan laser positioning

Spesifikasi Produk

Model IHV-50SE
Test Force 1 – 50 kgf (optional 0.5 kgf)
Measurement Type Vickers, Knoop, Brinell
Turret System Automatic Turret
Turret Stations 6 Stations Precision Turret
Objective Lens 10X, 20X (optional 2.5X, 5X, 50X)
Display Touch Screen Display
Report Output Supported
Data Export Supported
Connectivity Wi-Fi

Aplikasi

IHV-50SE digunakan untuk pengujian kekerasan material pada laboratorium metalurgi, industri manufaktur, quality control, penelitian material science, inspeksi heat treatment, pengujian coating, hingga analisa struktur logam dan material presisi tinggi.

Fitur Tambahan

Sistem automatic turret memungkinkan perpindahan otomatis antara indenter dan objective lens selama proses pengujian sehingga meningkatkan efisiensi dan akurasi pengukuran. Alat ini juga mendukung penyimpanan data, ekspor laporan, serta pengukuran hardness otomatis hanya dengan satu klik.

Untuk informasi lebih lanjut mengenai spesifikasi lengkap, konfigurasi alat, aksesoris tambahan IHV-50SE Micro Hardness Tester, silakan cek brosur dibawah ini.

Related Posts

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *